内容：
- 用于离散数据的拟合优度检验
- 排序的卡方检验
- 在工作表中存储对照表
- 对独立性的三因子检验
- 已添加变量图或偏回归图
- 对 2 水平、2 因子设计的均值 (ANOM) 的分析
- 校准或逆回归
- 多重关联的系数
- 关于在回归中使用折刀技术的示例主题
- 通过原点的拟合线图
- Hildreth - Lu 过程
- 包含预测值的线性或二次回归
- 多案例 Cook 距离
- 针对将来的观测值或样本的预测区间
- 使用幂变换且来自回归的 PRESS 统计量
- 按分组变量回归
- 岭跟踪图
- 滚动回归
- 经过排序的单因子方差分析
- 经过排序的简单回归
- 将相关和 P 值存储到列中
- Tukey 的非相加性 1 自由度检验
- 将日期转换为会计季度和年份
- 扩大频率
- Odd-even
- 使用计数法计算四分位数
- 展示中心极限定理
- 展示 Deming 漏斗试验
- 展示大数定律
- 关于在回归中使用折刀技术的示例主题
- 拱形曲线
- 控制图的随机数据
- 双样本 Z 检验
- 多次试验的二项累积分布函数
- 使用计数法计算四分位数
- 累积均值和累积标准差
- 在点图上显示中位数、Q1 和 Q3
- 直方图生成的区间的频率和百分比
- 中位数绝对偏差
- 统计数据的中位数
- 中位数修匀器
- 多项式概率
- 百分位数
- 针对将来的观测值或样本的预测区间
- 随机正态
- 按组排秩
- 用“平滑”值替换缺失值
- 将相关和 P 值存储到列中
- 分层随机抽样
- 默认直方图的频率和百分比表
- 结果表
- 时间区间
- 截尾均值
- 双样本 Z 检验
- 加权均值和加权标准差
- 极值调整的均值和方差
- Bland-Altman 图
- 使用 3*IQR 确定异常值的箱线图
- 通过原点的拟合线图
- 在点图上显示中位数、Q1 和 Q3
- 直方图生成的区间的频率和百分比
- 马赛克图
- 拱形曲线
- 岭跟踪图
- 默认直方图的频率和百分比表
- 采用 LU 分解的矩阵的行列式
- 以编程方式确定矩阵尺寸
- 矩阵行列式（绝对值）
- Odd-even
- Kruskal Wallis 多重比较
- 用于检测趋势的 Mann-Kendall 检验
- 针对堆叠数据的 Mann-Whitney 检验
- 非参数能力分析
- Sen 斜率
- 对基础分布执行双样本 Kolmogorov-Smirnov 正态检验
- 针对配对数据的 Wilcoxon 符号秩检验
- 对 2 水平、2 因子设计的均值 (ANOM) 的分析
- Bland-Altman 图
- 空白 Xbar 或个体控制图
- 摘要统计量中的控制图
- 相关图
- 使用 CUSUM 检测持续偏移尺寸
- 对多个测量列执行 Gage RR
- Levey-Jennings 控制图
- 非参数能力分析
- 最速上升路径
- 控制图的随机数据
- 稳健的 Xbar-S 控制图
- “从因子设计或中心复合设计选择 D 优化设计”主题
- 不一致单位的标准化控制图
- 方差离散图
- 连接线下的面积
- 多对列的互相关
- 光谱分析
控制图的随机数据
minitab- 版本 ：Minitab 21
控制图的随机数据
此宏生成控制图的随机数据。
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子组变异
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%CCDATA
按运行。
在每个 DATA 提示符处输入值，然后按 Enter 键。
提示
可以通过将子组间变异指定为大于子组内变异来创建非受控数据。
注意
此宏将随机选择，以在随机子组中添加过程偏移或趋势。