内容：
- 用于离散数据的拟合优度检验
- 排序的卡方检验
- 在工作表中存储对照表
- 对独立性的三因子检验
- 已添加变量图或偏回归图
- 对 2 水平、2 因子设计的均值 (ANOM) 的分析
- 校准或逆回归
- 多重关联的系数
- 关于在回归中使用折刀技术的示例主题
- 通过原点的拟合线图
- Hildreth - Lu 过程
- 包含预测值的线性或二次回归
- 多案例 Cook 距离
- 针对将来的观测值或样本的预测区间
- 使用幂变换且来自回归的 PRESS 统计量
- 按分组变量回归
- 岭跟踪图
- 滚动回归
- 经过排序的单因子方差分析
- 经过排序的简单回归
- 将相关和 P 值存储到列中
- Tukey 的非相加性 1 自由度检验
- 将日期转换为会计季度和年份
- 扩大频率
- Odd-even
- 使用计数法计算四分位数
- 展示中心极限定理
- 展示 Deming 漏斗试验
- 展示大数定律
- 关于在回归中使用折刀技术的示例主题
- 拱形曲线
- 控制图的随机数据
- 双样本 Z 检验
- 多次试验的二项累积分布函数
- 使用计数法计算四分位数
- 累积均值和累积标准差
- 在点图上显示中位数、Q1 和 Q3
- 直方图生成的区间的频率和百分比
- 中位数绝对偏差
- 统计数据的中位数
- 中位数修匀器
- 多项式概率
- 百分位数
- 针对将来的观测值或样本的预测区间
- 随机正态
- 按组排秩
- 用“平滑”值替换缺失值
- 将相关和 P 值存储到列中
- 分层随机抽样
- 默认直方图的频率和百分比表
- 结果表
- 时间区间
- 截尾均值
- 双样本 Z 检验
- 加权均值和加权标准差
- 极值调整的均值和方差
- Bland-Altman 图
- 使用 3*IQR 确定异常值的箱线图
- 通过原点的拟合线图
- 在点图上显示中位数、Q1 和 Q3
- 直方图生成的区间的频率和百分比
- 马赛克图
- 拱形曲线
- 岭跟踪图
- 默认直方图的频率和百分比表
- 采用 LU 分解的矩阵的行列式
- 以编程方式确定矩阵尺寸
- 矩阵行列式（绝对值）
- Odd-even
- Kruskal Wallis 多重比较
- 用于检测趋势的 Mann-Kendall 检验
- 针对堆叠数据的 Mann-Whitney 检验
- 非参数能力分析
- Sen 斜率
- 对基础分布执行双样本 Kolmogorov-Smirnov 正态检验
- 针对配对数据的 Wilcoxon 符号秩检验
- 对 2 水平、2 因子设计的均值 (ANOM) 的分析
- Bland-Altman 图
- 空白 Xbar 或个体控制图
- 摘要统计量中的控制图
- 相关图
- 使用 CUSUM 检测持续偏移尺寸
- 对多个测量列执行 Gage RR
- Levey-Jennings 控制图
- 非参数能力分析
- 最速上升路径
- 控制图的随机数据
- 稳健的 Xbar-S 控制图
- “从因子设计或中心复合设计选择 D 优化设计”主题
- 不一致单位的标准化控制图
- 方差离散图
- 连接线下的面积
- 多对列的互相关
- 光谱分析
Sen 斜率
minitab- 版本 ：Minitab 21
Sen 斜率
此宏可计算 Sen 斜率，该斜率是用于估计单变量时间序列斜率的非参数化备择斜率。此方法包括计算所有顺序时间点对的斜率和将这些斜率的中位数用作整体斜率的估计值。Sen 斜率对异常值不敏感，可用于检测数据中是否存在某种趋势。
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必需输入
一列数据
运行宏
假设数据在 C2 中。要运行此宏，请选择查看>命令行/历史记录，然后键入：
%SENSLOPE C2
单击运行。