内容:
- 用于离散数据的拟合优度检验
- 排序的卡方检验
- 在工作表中存储对照表
- 对独立性的三因子检验
- 已添加变量图或偏回归图
- 对 2 水平、2 因子设计的均值 (ANOM) 的分析
- 校准或逆回归
- 多重关联的系数
- 关于在回归中使用折刀技术的示例主题
- 通过原点的拟合线图
- Hildreth - Lu 过程
- 包含预测值的线性或二次回归
- 多案例 Cook 距离
- 针对将来的观测值或样本的预测区间
- 使用幂变换且来自回归的 PRESS 统计量
- 按分组变量回归
- 岭跟踪图
- 滚动回归
- 经过排序的单因子方差分析
- 经过排序的简单回归
- 将相关和 P 值存储到列中
- Tukey 的非相加性 1 自由度检验
- 将日期转换为会计季度和年份
- 扩大频率
- Odd-even
- 使用计数法计算四分位数
- 展示中心极限定理
- 展示 Deming 漏斗试验
- 展示大数定律
- 关于在回归中使用折刀技术的示例主题
- 拱形曲线
- 控制图的随机数据
- 双样本 Z 检验
- 多次试验的二项累积分布函数
- 使用计数法计算四分位数
- 累积均值和累积标准差
- 在点图上显示中位数、Q1 和 Q3
- 直方图生成的区间的频率和百分比
- 中位数绝对偏差
- 统计数据的中位数
- 中位数修匀器
- 多项式概率
- 百分位数
- 针对将来的观测值或样本的预测区间
- 随机正态
- 按组排秩
- 用“平滑”值替换缺失值
- 将相关和 P 值存储到列中
- 分层随机抽样
- 默认直方图的频率和百分比表
- 结果表
- 时间区间
- 截尾均值
- 双样本 Z 检验
- 加权均值和加权标准差
- 极值调整的均值和方差
- Bland-Altman 图
- 使用 3*IQR 确定异常值的箱线图
- 通过原点的拟合线图
- 在点图上显示中位数、Q1 和 Q3
- 直方图生成的区间的频率和百分比
- 马赛克图
- 拱形曲线
- 岭跟踪图
- 默认直方图的频率和百分比表
- 采用 LU 分解的矩阵的行列式
- 以编程方式确定矩阵尺寸
- 矩阵行列式(绝对值)
- Odd-even
- Kruskal Wallis 多重比较
- 用于检测趋势的 Mann-Kendall 检验
- 针对堆叠数据的 Mann-Whitney 检验
- 非参数能力分析
- Sen 斜率
- 对基础分布执行双样本 Kolmogorov-Smirnov 正态检验
- 针对配对数据的 Wilcoxon 符号秩检验
- 对 2 水平、2 因子设计的均值 (ANOM) 的分析
- Bland-Altman 图
- 空白 Xbar 或个体控制图
- 摘要统计量中的控制图
- 相关图
- 使用 CUSUM 检测持续偏移尺寸
- 对多个测量列执行 Gage RR
- Levey-Jennings 控制图
- 非参数能力分析
- 最速上升路径
- 控制图的随机数据
- 稳健的 Xbar-S 控制图
- “从因子设计或中心复合设计选择 D 优化设计”主题
- 不一致单位的标准化控制图
- 方差离散图
- 连接线下的面积
- 多对列的互相关
- 光谱分析
非参数能力分析
minitab- 版本 :Minitab 21
非参数能力分析
此宏使用 D. W. McCormack Jr.、Ian R. Harris、Arnon M. Hurwitz 和 Patrick D. Spagon (2000) 编写的参考文章“Capability Indices for Non-Normal Data”(非正态数据的能力指数)中介绍的经验百分位数方法计算能力指数 (Cnpk)。这篇文章出自《Quality Engineering》(质量工程)第 12 卷第 4 期的第 489 到 495 页。还提供了其他非参数能力分析方法。此处仅显示经验百分位数方法。
通常,您仅在数据不服从正态分布或在 Minitab 的能力分析中使用的其他分布时才使用此方法。此宏的作者强烈建议您使用统计>质量工具>个体分布标识来确定您的数据是否服从所列的任何分布。这些分布是正态、对数正态、3 参数对数正态、指数、2 参数指数、Weibull、3 参数 Weibull、最大极值、最小极值、Gamma、3 参数 Gamma、Logistic、对数 Logistic 和 3 参数对数 Logistic。
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必需输入
一列观察数据(至少包含 100 个观察)
可选输入
LSL K
用于指定规格下限。
USL K
用于指定规格上限。
运行宏
假设您的数据在 C2 中,并且规格下限 (LSL) 为 12,规格上限 (USL) 为 16。要运行此宏,请选择查看>命令行/历史记录,然后键入以下内容:
%ECAPA C2; LSL 12; USL 16。
单击运行。